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外延片测温仪

描述:Sekidenko OR400M 外延片测温仪可选波长3.3或5.2μm,具有RS232数字输出和模拟输出接口,适用于薄膜太阳能,玻璃,半导体工艺温度的精确测量。
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更新时间: 2020-05-16

产品介绍

Sekidenko OR400M 外延片测温仪主要特点

  • 自动环境温度校准

  • 结构紧凑,易于集成

  • 高速固态光电探测器

  • 薄膜光伏电池生产过程的实时测量

  • 可配置的滤光片,探测器和光学传输系统

详细说明

OR400M 单通道中波光学高温计用于需要更长波长的半导体应用,例如测量真空室内的石英。高温计安装在腔室外通过视窗进行非接触式测量。

由于玻璃具有独特的透射特性,因此测量玻璃温度必须选择更长的波长(通常在5 µm以上)。这些波长使高温计可以“看见”玻璃基板,而不是透过玻璃测量对侧的物体或薄膜的辐射。OR400M 可在5.2 µm工作波段下对基于玻璃的应用(包括高杂散光背景存在情况)进行的精确测量

OR400M光学高温计可选用3.3 µm的近红外波段和5.2 µm的中红外波段。该设备的波长范围非常适合光伏(PV)太阳能应用中叠层PV电池组中的特定层温度的测量。PV电池层包括TCO(透明导电氧化物)层,钼背面接触层以及CIGS(硒化铜铟镓)或CdTe(碲化镉)沉积层。 为了选择正确的波长来测量每层的温度,必须考虑以下几点:

  • 层的透射率属性

  • 层的厚度

  • 层的发射率

  • 背景杂散光对测试的影响

 

技术参数

通用参数

配置

单通道温度测量

温度范围

50 至 1300°C

波长3.3 和 5.2 µm ,可订制
读取速率高达 250 Hz
测温精度±3°C

重复精度

±0.1°C

分辨率0.01°C
接口
屏幕显示无,可通过RS232设置
数据 I/O高达115 kB的 RS-232 输出
模拟输出0 至 10 V 或 4 - 20 mA
电参数

输入电压

AC: 90 to 263 VAC, 47 to 63 Hz

DC: +24 VDC

环境参数
使用环境15 to 40°C (64 to 104°F), 非凝露
物理特性
物理尺寸

32 mm (H) x 57 mm (W) x 235 mm (D)

1.26" (H) x 2.30" (W) x 9.26" (D)

重量0.39 kg (0.87 lb)
安装框架安装,安装块上有安装孔;有关更多信息,请参考手册。
电源线电流100 VAC时,小于0.7A

Sekidenko OR400M 外延片测温仪

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