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86-10-50845669产品介绍
实时,非接触温度和发射率测量
高速测量非常适合各种应用
多种可用温度+反射波长
多种输出接口包括EtherCAT®, USB, 和模拟输出
增强了工艺的可预见性
高度可配置的平台
提高了测温精度和重复精度
增强了工艺的一致性
提高了生产效率、产量和吞吐量
易于集成和灵活控制
Sekidenko MXE高温计集速度和精度于一身,可对苛刻的应用进行精确,非接触,可重复的测量和控制。它的高速(高达10 kHz)性能非常适合移动目标过程温度测量(例如旋转基座)。它也非常适合于动态过程,包括基于激光处理和快速退火。为了易于集成和灵活控制选项,MXE单元设计的非常紧凑,并支持各种I / O协议
通用参数 | |
配置 | 仅测量温度 测量温度和反射率 仅测量反射率 |
温度范围 | 取决应用 |
读取速率 | 可达 10 kHz |
测温精度 | ±1.5°C |
重复精度 | ±0.1°C |
分辨率 | 0.001°C |
反射率测量精度 | ±1 % |
反射率重复精度 | ±0.5 % |
工作距离 | 100 至 450 mm |
目标尺寸 | 可小到 2…8 mm |
电参数 | |
输入电压 | AC: 90 to 263 VAC, 47 to 63 Hz DC: +24 VDC |
环境参数 | |
使用环境 | 18 to 40°C (64 to 104°F), 非凝露 |
物理特性 | |
尺寸 | 229 mm (D) x 127 mm (W) x 46 mm (H) |
重量 | 小于1.54 kg (3.4 lb) |
安装 | 倾斜台和XY台可选 |
接口 | |
EtherCAT® Protocol | 符合EtherCAT®标准 |
USB 2.0 | 10 kHz数据传输速率高达2 kHz |
RS-232 | 可选波特率高达460800;7E1或8N1 |
模拟输出 | 0 至 10 V 或 4 至 20 mA |
控制 I / O | 同步输出,警报输出,源联锁 |
系统要求 | I5或同等处理器,带有Beckhoff合格的网卡,建议用于以太网CAT®支持 |
Sekidenko MXE 外延片测温仪
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